• 名称X射线光电子能谱仪（XPS）
• 资产编号20143715
• 型号Kratos AXIS Ultra DLD
• 规格
• 产地英国
• 厂家进口
• 所属品牌
• 出产日期
• 购买日期
• 所属单位化学与化工学院
• 使用性质科研
• 所属分类分析测试仪器
• 联系人常宁辉
• 联系电话17791879242
• 联系邮箱
• 放置地点理学院楼B144室

主要规格及技术指标

X射线光电子能谱仪（X-ray Photoelectron Spectroscopy，下称XPS）
本谱仪具备能量分辨率可达0.45eV（Ag 3d 5/2），并配备大功率单色化X射线源以实现高灵敏表面化学状态分析，结合离子刻蚀可实现深度剖析XPS。本谱仪具备全自动同轴荷电中和技术，可以完善解决绝缘样品的电荷积累给XPS分析带来的困难。同时，本谱仪具备领先的成像能量分析器，可以实现FAT快速平行成像获得于固体表面元素成分及价态的面分布分析。
具体参数：
X射线源：单色化Al靶，Al Kα hυ=1486.6 ev
样品分析区域：700μm*300μm
X射线工作功率：150 W （电流：10 mA；电压：15 kV）
采样深度：无机材料：<5 nm; 有机材料：<10 nm

主要功能及特色

广泛应用于化学、材料及相关学科领域的高技术分析仪器，主要用于固体材料的表面（1～10nm深度）元素成分和价态的定性和定量分析。

样本检测注意事项

样品形貌、尺寸要求：
1. 固体粉末：尽可能地研细（测试效果会更好），3~5mg，用PCR小管封装。
2. 薄膜样品（包括镀层在硅片或者玻璃片上）：表面平整，无污物，大小5mm*5mm，标清正反面（可在背面打个小×），用样品袋或者PCR管封装；
3. 纤维样品：请提前粘到双面胶上（尺寸：5mm*5mm，只撕掉一面），尽可能的致密（保证测试效果）；
4. 其他固体：待测面平整，尺寸尽可能裁到5mm*5mm到10mm*10mm之间，厚度不超过3mm。

另外，带磁性样品不能测试（如何判断磁性：如果你的样品能被大头针或者曲别针吸住，则不能测），
送样时及时告诉管理员样品的导电性与磁性情况。

设备使用相关说明(收费标准)

一、院内：
1.XPS元素图谱分析：
80元/样（宽扫+四元素以内的窄扫，超出四个元素，每个元素加收20元）
2.XPS成像分析：
100元/图。
3.XPS离子深度剖析：
150元/60s/3nm
二、校内：
与院内一致。
三、校外：
院内的2倍。